Curso: Plan de muestreo para inspección por atributos (Norma Técnica NCh44).
26.11.2018
Profesor: Ing. Manuel Rodríguez.
Lunes 26 y Martes 27 de noviembre, 9 - 18 horas. (16 horas cronológicas/ 2 días 9-14 hrs. /15-18 hrs.).
VALOR: $370.000
Colegiados CQF: 30% descuento
Lugar: Av. Nueva Providencia 1881, oficina 1618, Sala Santa Augusta, Providencia.
Cierre de inscripciones: Jueves 22 de noviembre.
Objetivos
Objetivo General: Dar a conocer los niveles de muestras aceptables de calidad y el desarrollo de las inspecciones basados en las interpretaciones normativas de muestreos. Asimismo, que los alumnos sepan aplicar sistemas de muestreo estadístico y de control de calidad en diversos tipos productos farmacéuticos.
Objetivos Específicos:
- Conocer elementos de control estadístico para muestreo.
- Clasificar no conformidades.
- Conocer niveles de aceptabilidad de calidad.
- Conocer los planes de muestreos e inspecciones.