Curso: Plan de muestreo para inspección por atributos (Norma Técnica NCh44).

Profesor: Ing. Manuel Rodríguez.

Lunes 26 y Martes 27 de noviembre, 9 - 18 horas. (16 horas cronológicas/ 2 días   9-14 hrs. /15-18 hrs.). 


VALOR: $370.000

Colegiados CQF: 30% descuento

Lugar: Av. Nueva Providencia 1881, oficina 1618, Sala Santa Augusta, Providencia.

Cierre de inscripciones: Jueves 22 de noviembre.

Objetivos

Objetivo General: Dar a conocer los niveles de muestras aceptables de calidad y el desarrollo de las inspecciones basados en las interpretaciones normativas de muestreos. Asimismo, que los alumnos sepan aplicar sistemas de muestreo estadístico y de control de calidad en diversos tipos productos farmacéuticos.

Objetivos Específicos:

  • Conocer elementos de control estadístico para muestreo.
  • Clasificar no conformidades.
  • Conocer niveles de aceptabilidad de calidad.
  • Conocer los planes de muestreos e inspecciones.
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